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题目内容 (请给出正确答案)
[多选题]

下列描述正确的是()。

A.塑封体内部结构外露即塑封体内部结构(芯片、键合线、芯片焊接的接合材、框架等)外露

B.塑封体划痕即塑封体表面有长度>塑封体短边的1/4,并且划痕宽度>0.2mm的划痕

C.锡球或锡渣残留即管脚上或塑封体上有锡球或锡渣残留

D.镀层变色包括锡层表面有明显的水渍、酸斑,类似手指印的污物、镀层发黄、发黑、发花等

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第1题
芯片检测即芯片成品测试,集成电路后道工序的划片、键合、封装及老化过程中都会损坏部分电路下列选项为电性能测试的是()。

A.消耗功率

B.运行速度

C.耐压度

D.塑封体划伤

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第2题
塑封后产品芯片及内引脚压焊区分层检验标准为()

A.塑封体面积的10%

B.塑封体面积的15%

C.塑封体面积的20%

D.芯片表面及引脚打线区不允许有分层

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第3题
下列潜在原因可能导致芯片破裂的是:()。

A.非均匀的芯片黏结层

B.键合装置不良

C.塑封料黏度太高和非正常固化

D.晶圆成型时的应力

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第4题
下列缺陷那些为塑封的Killer defect()〒〒-1〒〒§0§1〒§true§false§0§true,,,§ceshi〒2〒

A.塑封体裂纹

B.芯片分层

C.芯片区域空洞

D.封反

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第5题
芯片的外观检测主要对芯片()等进行检查。

A.外壳

B.管脚

C.印章

D.塑封体

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第6题
下列描述正确的是()。

A.DIP双列直插封装

B.QFP扁平式封装

C.LCCC无引线扁平式封装

D.BGA塑封有引线芯片载体

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第7题
下列描述错误的是()。

A.DIP双列直插封装

B.QFP扁平式封装

C.LCCC无引线扁平式封装

D.BGA塑封有引线芯片载体

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第8题
下列描述正确的是()。

A.铝箔袋又叫纯铝袋,芯片在外观检查结束后需要将芯片装入防静电铝箔袋内,再进行抽真空并用内盒进行包装

B.PLCC塑封有引线芯片载体:是带引线的塑料芯片载体,属于表面贴装型封装之一。引脚从封装的四个侧面引出,呈丁字形,是塑料制品

C.PGA针栅阵列封装:是插装型封装之一,引脚从封装两侧引出,封装材料有塑料和陶瓷两种。DIP是最普及的插装型封装

D.编带工艺操作时,用盖带进行热封,是为了防止载带中的芯片掉落

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第9题
塑封前单只产品报废,在料条相应边框上打“X”标识时,注意不要将连接塑封体与框架的支持棒划断,切筋工序无法成形()
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第10题
塑封后,芯片区域气孔产品无需开具NCL单()
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