A.处于统计控制状态的过程合格品率较稳定
B.处于统计状态的的过程合格品率最高
C.处于技术稳态的过程是最理想的过程
D.当统计稳态和技术稳态都达到时,是最理想的过程
A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时,Cp≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态.
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进
D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态
控制图是一种()。
A.利用公差界限控制过程的图
B.用于监控过程质量是否处于统计控制状态的图
C.根据上级下达指标设计的因果图
D.用于控制成本的图