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第8题
接触法超声波探伤，探测近距离(或小直径)工件时，为获得较大声场范围，可选用()直径晶片的探头。
接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径)工件时，为获得较大声场范围，可选用（)直径晶片的探头。
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第9题
B/C型显示轮轴、轮对超声波自动探伤机探伤结果为“合格”时，探伤工应对图像进行检查。如经确认数据采集完整，没有异常波形或异常灰度区域，则判定探伤结果为合格。若发现数据采集不完整，须重新探伤;数据记录中存在异常波形或异常灰度区域时按存在“疑似缺陷”处置。()
第11题
B/C型显示轮轴、轮对超声波自动探伤探伤作业及处置：探伤工对探伤设备给出的结果进行确认和处置：探伤结果为合格时，探伤工应对图像进行检查。如经确认数据采集完整，没有异常波形或异常灰度区域，则判定探伤结果为合格。若发现数据采集不完整，须重新探伤；数据记录中存在异常波形或异常灰度区域时按存在（）处置。
A.采集
B.疑似缺陷
C.位置
D.缺陷
