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试分析X射线荧光光谱形成分析误差的可能性。

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第1题

简述手持式X射线荧光合金分析仪进行材质分析的操作步骤。

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第2题

X光荧光(XRF)光谱产生的原因是()。两种谱仪一种是()，另一种是()。它们与波谱仪(WDS)和能谱仪(EDS)的区别是()。

X光荧光（XRF)光谱产生的原因是（)。两种谱仪一种是（)，另一种是（)。它们与波谱仪（WDS)和能谱仪（EDS)的区别是（)。

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第3题

手持式X射线荧光光谱仪检测镀银层厚度时可能发生哪些异常情况。原因分析及处理。

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第4题

解释并区别下列名词：（1)X射线荧光与X射线衍射;（2)Moseley定律与Bragg方程。

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第5题

在X射线荧光光谱分析土壤样品时，可不破坏试样进行多元素分析。（)

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第6题

因X荧光分析中背景很大部分可能来源于入射X射线的散射。然而元素越重散射越少，所以重元素光谱上的背景几乎无大的影响;相反在测量低浓度的轻元素时背景就成为限制因素。（)

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第7题

由原子产生的光谱有（)

A.原子吸收

B.原子发射

C.原子荧光

D.X荧光

E.莫斯鲍尔谱

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第8题

在X射线的衍射实验中。射线以30°的掠射角射在晶格常数为2.52x10¹⁰m的晶体上，出现第三级反射极大，试求X射线的波长？

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第9题

手持式X射线荧光合金分析仪主要有哪些特点。

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第10题

根据激发方式的不同，X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种：用（)产生原级X射线的X荧光分析仪称为管激发仪器。

A.放射性同位素源

B.X射线发生器(X光管)

C.γ射线发生器

D.非放射性同位素源

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