A.处于统计控制状态的过程合格品率较稳定
B.处于统计状态的的过程合格品率最高
C.处于技术稳态的过程是最理想的过程
D.当统计稳态和技术稳态都达到时,是最理想的过程
A.点子几乎全部落在控制界限内
B.控制界限内的点子排列没有缺陷
C.点子排列出现“链”
D.点子排列出现“多次同侧”
E.点子排列出现“趋势或倾向”
A.逐层深入排查确定影响质量问题的主要原因
B.通过对造成质量问题的原因分析统计数据进行状况描述,找出主要问题、次要问题和一般问题
C.分析生产过程质量是否处于稳定状态
D.通过数据分布的集中或离散状况,掌握质量能力状态
E.分析质量水平是否保持在公差允许的范围内