更多“光子探头器件温度异常可能与()有关。”相关的问题
第1题
THDS-C红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。（)
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第2题
器件温度接近环温，哪些地方可能出现问题？
A.光子探头
B.测温板
C.制冷板
D.制冷电源板
E.调理板
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第3题
THDS-C探测站中光子探头元件温度异常可能产生的原因是（)。
A.热靶温控板故障
B.前放板故障
C.IO卡故障
D.制冷控制板故障
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第4题
THDS-BS红外轴温探测系统报+7V电压异常时与下列哪个硬件无关（)。
A.挡板电机
B.光子探头
C.制冷电源板
D.AD采集卡
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第5题
THDS-BS红外轴温探测系统制冷板是控制（)温度的电路板。
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第6题
THDS-C探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有（)种调整制冷方式。
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第7题
THDS-C热靶是自适应系统中对探头进行标定的一种热标准，校曲线时光子探头读取热靶不断均匀上升的温度，使光子探头得到一条与热靶温度相对应的电压幅值曲线，从而达到跟踪探头特性变化，转换光子探头输出值为绝对温度的目的。()此题为判断题(对，错)。
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第8题
THDS-C探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制（)温度的电路板。
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第9题
器件温度不稳定或有跳变，容易造成探头器件的（)发生变化。
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第10题
可能与前置胎盘发病有关的因素有（)
A.受精卵发育迟缓
B.宫腔形态异常
C.吸烟、吸毒
D.腹部受到撞击
E.长时间卧床
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